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驅散技術的X-射線

驅散技術的X-射線 是家庭非破壞性分析 技術 哪些顯露關於的信息 晶體 結構、化學成分和材料和薄膜有形資產。 這些技術根據觀察 驅散 強度 X-射線 放光擊中樣品作為事件功能和疏散角度、極化和波長或者能量。

X-射線衍射技術

X-射線衍射使用X-射線發現分子的幾何或形狀。 X-射線 衍射 技術根據 有彈性 驅散X-射線從有的結構 長距離順序. 從水晶給驅散的最全面的描述 衍射的動態理論. ^[1]

• 唯一水晶X-射線衍射 是用於的技術解決水晶材料完全結構，範圍從簡單 無機固體 對複合體 大分子例如 蛋白質.
• 粉末衍射 (XRD)是用於的技術描繪晶體結構， 晶子 大小(粒度)和首選的取向在多晶或搽粉的堅實樣品。 粉末衍射是常用的鑒別未知的物質，通過比較衍射數據反對維護的數據庫 衍射數據國際中心. 它也許也用於描繪異種堅實混合物確定水晶化合物相對豐盈，當加上格子提煉技術，例如時 Rietveld提煉在未知的材料能提供結構信息。 粉末衍射也是一個共同的方法為確定 張力 在水晶材料。
• 薄膜衍射和吃草發生X-射線衍射也許用於描繪基體停住的薄膜的晶體結構和首選的取向。
• 高分辨率X-射線衍射在稀薄的外延影片用於描繪厚度、晶體結構和張力。 它使用平行射線光學。
• X-射線 杆形象 分析在一個水晶薄膜樣品之內實現一個人分析和確定水晶取向的發行。
• X-射線晃動的曲線分析用於定量在水晶材料和馬賽克傳播的粒度。

驅散技術

彈性散射

沒有長距離順序的材料也許通過驅散依靠的方法也學習 有彈性 驅散單色X-射線。

• 小角度X-射線驅散(SAXS) 探針在毫微米構造對測微表範圍通過測量驅散強度在散射角2θ緊挨0°。 ^[2]
• X-射線反射性 是確定厚度、坎坷和密度的一個分析技術單層和多層薄膜。
• 廣角X-射線驅散 (WAXS)，集中散射角2θ的技術大於5°。

非彈性散射

當能量和角度 inelastically 被監測驅散技術的疏散X-射線可以使用探查 電子帶狀組織 材料。

• 坎頓驅散
• 共振無彈性X-射線驅散(RIXS)
• X-射線喇曼驅散

X-射線衍射和驅散設備製造商

• Hecus X-射線系統
• 安東Paar
• Bede X-射線計量學
• Bruker AXS (以前西門子)
• Incoatec
• inXitu公司
• 喬丹榖半導體
• PANalytical (以前Philips)
• Rigaku
• 島津
• 熱Fisher科學
• Xenocs
• XStream系統

參考

1. ^ Azároff， L。 v.; R. Kaplow， N。 Kato， R。 J. Weiss， A。 J. C. 威爾遜， R。 A. young (1974)。 X-射線衍射. McGraw小山。 
2. ^ Glatter， O.; O. kratky (1982)。 小角度X-射線驅散. 學術Press。 

參見

• 結構決心
• X-射線結晶學

外部鏈接

Wikimedia共同性有媒介與有關：

X-射線衍射

• 結晶學國際聯合
  • IUCr結晶學網上
• 衍射數據(ICDD)國際中心
• XRD@JISCMAIL.AC.UK檔案
• 英國的晶體協會
• X-射線衍射介紹 在 加州大學，聖芭卜拉