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驱散技术的X-射线

驱散技术的X-射线 是家庭非破坏性分析 技术 哪些显露关于的信息 晶体 结构、化学成分和材料和薄膜有形资产。 这些技术根据观察 驱散 强度 X-射线 放光击中样品作为事件功能和疏散角度、极化和波长或者能量。

X-射线衍射技术

X-射线衍射使用X-射线发现分子的几何或形状。 X-射线 衍射 技术根据 有弹性 驱散X-射线从有的结构 长距离顺序. 从水晶给驱散的最全面的描述 衍射的动态理论. ^[1]

• 唯一水晶X-射线衍射 是用于的技术解决水晶材料完全结构，范围从简单 无机固体 对复合体 大分子例如 蛋白质.
• 粉末衍射 (XRD)是用于的技术描绘晶体结构， 晶子 大小(粒度)和首选的取向在多晶或搽粉的坚实样品。 粉末衍射是常用的鉴别未知的物质，通过比较衍射数据反对维护的数据库 衍射数据国际中心. 它也许也用于描绘异种坚实混合物确定水晶化合物相对丰盈，当加上格子提炼技术，例如时 Rietveld提炼在未知的材料能提供结构信息。 粉末衍射也是一个共同的方法为确定 张力 在水晶材料。
• 薄膜衍射和吃草发生X-射线衍射也许用于描绘基体停住的薄膜的晶体结构和首选的取向。
• 高分辨率X-射线衍射在稀薄的外延影片用于描绘厚度、晶体结构和张力。 它使用平行射线光学。
• X-射线 杆形象 分析在一个水晶薄膜样品之内实现一个人分析和确定水晶取向的发行。
• X-射线晃动的曲线分析用于定量粒度，并且马赛克在水晶材料传播。

驱散技术

弹性散射

没有长距离顺序的材料也许通过驱散依靠的方法也学习 有弹性 驱散单色X-射线。

• 小角度X-射线驱散(SAXS) 探针在毫微米构造对测微表范围通过测量驱散强度在散射角2θ紧挨0°。 ^[2]
• X-射线反射性 是确定厚度、坎坷和密度的一个分析技术单层和多层薄膜。
• 广角X-射线驱散 (WAXS)，集中散射角2θ的技术大于5°。

非弹性散射

当能量和角度 inelastically 被监测驱散技术的疏散X-射线可以使用探查 电子带状组织 材料。

• 坎顿驱散
• 共振无弹性X-射线驱散(RIXS)
• X-射线喇曼驱散

X-射线衍射和驱散设备制造商

• Hecus X-射线系统
• 安东Paar
• Bede X-射线计量学
• Bruker AXS (以前西门子)
• Incoatec
• inXitu公司
• 乔丹谷半导体
• PANalytical (以前Philips)
• Rigaku
• 岛津
• 热Fisher科学
• Xenocs
• XStream系统

参考

1. ^ Azároff， L。 v.; R. Kaplow， N。 Kato， R。 J. Weiss， A。 J. C. 威尔逊， R。 A. young (1974)。 X-射线衍射. McGraw小山。 
2. ^ Glatter， O.; O. kratky (1982)。 小角度X-射线驱散. 学术Press。 

参见

• 结构决心
• X-射线结晶学

外部链接

• 结晶学国际联合
  • IUCr结晶学网上
• 衍射数据(ICDD)国际中心
• XRD@JISCMAIL.AC.UK档案
• 英国的晶体协会
• X-射线衍射介绍 在 加州大学，圣芭卜拉