Домашняя страница › Индекса Многоязычнoго Архива › Рентгеновский снимок разбрасывая методы
Рентгеновский снимок разбрасывая методы
Рентгеновский снимок разбрасывая методы семья аналитически без разрушения методы показывают информацию о кристаллографическо структура, химический состав, и физические свойства материалов и тонких пленок. Эти методы основаны на наблюдать разбросано интенсивность рентгеновский снимок испустите лучи ударять образец как функция случая и разбросанных угла, поляризации, и длины волны или энергии.
Методы огибания рентгеновского снимка
Огибание рентгеновского снимка находит геометрию или форму молекулы использующ рентгеновские снимки. Рентгеновский снимок огибание методы основаны на эластично разбрасывать рентгеновских снимков от структур имеют заказ длиннего ряда. Самое всестороннее описание разбрасывать от кристаллов дается dynamical теория огибания. [1]
- огибание рентгеновского снимка Одиночн-кристалла метод используемый для того чтобы разрешить вполне структуру кристаллических материалов, колебаясь от просто неорганические твердые тела к комплексу макромолекулы, such as протеины.
- Огибание порошка (XRD) метод используемый для того чтобы характеризовать кристаллографическую структуру, кристаллит размер (размер зерна), и предпочитаемая ориентация в поликристаллических или напудренных твердых образцах. Огибание порошка общ использовано для того чтобы определить неизвестные вещества, путем сравнивать данные по огибания против базы данных поддерживаемой Международный центр для данных по огибания. Оно может также быть использовано для того чтобы характеризовать несродные твердые смеси для того чтобы обусловить относительное обилие кристаллических смесей и, после того как оно соединяно с методами уточнения решетки, such as Уточнение Rietveld, смогите обеспечить структурно информацию на неизвестных материалах. Огибанием порошка будет также общий метод для обусловливать напряжения в кристаллических материалах.
- Огибание тонкой пленки и пасти огибание рентгеновского снимка падения могут быть использованы для того чтобы характеризовать кристаллографическую структуру и предпочитаемую ориентацию субстрат-поставленных на якорь тонких пленок.
- High-resolution огибание рентгеновского снимка использовано для того чтобы характеризовать толщину, кристаллографическую структуру, и напряжение в тонких эпитаксиальных пленках. Оно использует оптику параллельн-луча.
- Рентгеновский снимок рисунок полюса анализ позволяет одно проанализировать и обусловить распределение кристаллических ориентаций внутри кристаллический тонкопленочный образец.
- Анализ кривого рентгеновского снимка тряся использован для того чтобы квантифицировать размер и мозаику зерна распространенные в кристаллических материалах.
Разбрасывать методы
Эластичный разбрасывать
Материалы не имеют заказ длиннего ряда могут также быть изучены путем разбрасывать методы полагаются дальше эластично разбрасывать однокрасочных рентгеновских снимков.
Неупругий разбрасывать
Когда энергия и угол inelastically проконтролированы разбросанные рентгеновские снимки разбрасывая методы можно использовать для того чтобы зондировать электронная структура полосы материалов.
- Разбрасывать Compton
- Резонирующий неупругий разбрасывать рентгеновского снимка (RIXS)
- Разбрасывать Raman рентгеновского снимка
Изготовления огибания рентгеновского снимка и оборудования разбрасывать
Справки
- ^ Azároff, L. V.; R. Kaplow, N. Kato, R. J. Weiss, A. J. C. Wilson, R. A. Молод (1974). Огибание рентгеновского снимка. McGraw-Холм.
- ^ Glatter, O.; O. Kratky (1982). Малоугольный разбрасывать рентгеновского снимка. Академическая пресса.
См. также
Внешние соединения
Общие Wikimedia имеют средства отнесенные к: