技術を分散させるX線

技術を分散させるX線 非破壊的な分析的の系列はある技術についての情報を明らかにするかどれが結晶学材料および薄膜の構造、化学成分および物理的性質。これらの技術は観察に基づいている分散させる強度の X線事件の機能としてサンプルにおよび分散させた角度、分極および波長またはエネルギー当るビーム。

X線回折の技術

X線回折はX線を使用して分子の幾何学か形を見つける。 X線回折技術はに基づいている伸縮性がある持っている構造からのX線の分散長期順序. 水晶からの分散の広範囲の記述はによって与えられる回折の動的な理論. ^[1]

単一水晶のX線回折簡単から及ぶ結晶材料の完全な構造を解決するのに使用される技術がある無機固体複合体に高分子、のような蛋白質.
粉の回折 (XRD)結晶学の構造を特徴付けるのに使用される技術があるクリスタライトサイズ(結晶粒度)、および多結晶性か粉にされた固体サンプルの優先するオリエンテーション。粉の回折は一般的によって維持されるデータベースに対して回折データの比較によって未知の物質を、識別するためにである回折データのための国際的な中心. 、のような格子洗練の技術とつながれたときまた異質固体相対的な多量の結晶の混合物を定めるために混合物を特徴付けることを使用し、 Rietveldの洗練、未知の材料で構造的情報を提供できる。粉の回折はまた決定のための共通方法である緊張結晶材料。
薄膜の回折および牧草を食べる発生X線回折は基質固定された薄膜の結晶学の構造そして優先するオリエンテーションを特徴付けるのに使用されるかもしれない。
高解像のX線回折が薄いエピタキシアルフィルムの厚さ、結晶学の構造および緊張を特徴付けるのに使用されている。それは平行ビーム光学を用いる。
X線棒図分析は1つが結晶の薄膜のサンプル内の結晶のオリエンテーションの配分を分析し、定めることを可能にする。
X線の動揺のカーブの分析が結晶粒度の量を示すのに使用され、モザイクは結晶材料で広がった。

技術の分散

弾性散乱

長期順序がない材料はまた頼る方法の分散によって調査することができる伸縮性がある白黒X線の分散。

小さい角度のX線の分散(SAXS) 調査はマイクロメートルの範囲にナノメーターで測定によって構成し強度を0°の近くの散乱角2θで分散させる。 ^[2]
X線の反射力単一の層および多層薄膜の厚さ、荒さおよび密度を定めるための解析技法はある。
広角のX線の分散 (WAXS)、5°より大きい散乱角2θに集中する技術。

非弾性散乱

のエネルギーそして角度時 inelastically 技術を分散させる分散させたX線は厳密に調べるのに使用することができる監視される電子バンド構造材料の。

コンプトン分散
共鳴非弾力性X線の分散(RIXS)
X線のラマン分散

X線回折および分散装置の製造業者

HecusのX線システム
アントンPaar
BedeのX線の度量衡学
Bruker AXS (以前Siemens)
Incoatec
inXitu、株式会社。
ヨルダンの谷の半導体
PANalytical (以前Philips)
Rigaku
Shimadzu
科学熱のフィッシャー
Xenocs
XStreamシステム

参照

^ Azároff、L。 V.; R. Kaplow、N。 Kato、R。 J. Weiss、A。 J. C. ウイルソン、R。 A. young (1974年)。 X線回折. McGraw丘。
^ Glatter、O.; O. Kratky (1982年)。 小さい角度のX線の分散. 学術出版物。

また見なさい

外部リンク

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X線回折

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