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Raggi X che spargono le tecniche

Raggi X che spargono le tecniche è una famiglia di analitico non distruttivo tecniche quale rivelano le informazioni sul cristallografico struttura, composizione chimica e proprietà fisiche dei materiali e delle pellicole sottili. Queste tecniche sono basate sull'osservazione sparso intensità dell' raggi X irradii colpire un campione in funzione dell'avvenimento ed angolo, polarizzazione e lunghezza d'onda o energia sparsa.

Tecniche di diffrazione di raggi X

La diffrazione di raggi X trova la geometria o la figura di una molecola usando i raggi X. Raggi X diffrazione le tecniche sono basate sul elastico dispersione dei raggi X dalle strutture che hanno ordine della lunga autonomia. La descrizione più completa di dispersione dagli a cristallo è data dal teoria dinamica di diffrazione. ^[1]

• diffrazione di raggi X del Singolo-cristallo è una tecnica usata per risolvere la struttura completa dei materiali cristallini, variante da semplice solidi inorganici al complesso macromolecole, come proteine.
• Diffrazione della polvere (XRD) è una tecnica usata per caratterizzare la struttura cristallografica, cristallite formato (formato di grano) ed orientamento preferito in campioni solidi policristallini o in polvere. La diffrazione della polvere è comunemente usata identificare le sostanze sconosciute, confrontando i dati di diffrazione contro una base di dati effettuata dal Centro internazionale per i dati di diffrazione. Può anche essere usato per caratterizzare le miscele solide eterogenee per determinare l'abbondanza relativa dei residui cristallini e, una volta accoppiato con le tecniche di perfezionamento della grata, come Perfezionamento di Rietveld, può fornire le informazioni strutturali sui materiali sconosciuti. La diffrazione della polvere è inoltre un metodo comune per determinare sforzi in materiali cristallini.
• La diffrazione della pellicola sottile e pascere la diffrazione di raggi X di incidenza possono essere usati per caratterizzare la struttura cristallografica e l'orientamento preferito delle pellicole sottili substrato-ancorate.
• La diffrazione di raggi X ad alta definizione è usata per caratterizzare lo spessore, la struttura cristallografica e lo sforzo in pellicole epitassiali sottili. Impiega l'ottica del parallelo-fascio.
• Raggi X figura del palo l'analisi permette ad uno di analizzare e determinare la distribuzione degli orientamenti cristallini all'interno di un campione di sottili pellicole cristallino.
• L'analisi oscillante della curva dei raggi X è usata per misurare il formato ed il mosaico di grano sparsi in materiali cristallini.

Dispersione delle tecniche

Dispersione elastica

I materiali che non hanno ordine della lunga autonomia possono anche essere studiati spargendo i metodi che contano sopra elastico dispersione dei raggi X monocromatici.

• Piccola dispersione dei raggi X di angolo (SAXS) le sonde strutturano nel nanometro alla gamma di micrometro misurando spargendo l'intensità a spargere gli angoli 2θ vicino a 0°. ^[2]
• Riflettività dei raggi X è una tecnica analitica per la determinazione lo spessore, la rugosità e della densità delle pellicole sottili a un solo strato ed a più strati.
• Dispersione grandangolare dei raggi X (WAXS), una tecnica che si concentra sulla dispersione inclina 2θ più grande di 5°.

Dispersione anelastica

Quando l'energia e l'angolo del inelastically i raggi X sparsi sono controllati che spargono le tecniche possono essere usati sondare struttura elettronica della fascia dei materiali.

• Dispersione del Compton
• Dispersione anelastica sonora dei raggi X (RIXS)
• Dispersione del Raman dei raggi X

Fornitori di diffrazione di raggi X e di apparecchiatura di dispersione

• Sistemi dei raggi X di Hecus
• Anton Paar
• Metrologia dei raggi X di Bede
• Bruker AXS (precedentemente Siemens)
• Incoatec
• inXitu, Inc
• Semiconduttori della valle del Giordano
• PANalytical (precedentemente Philips)
• Rigaku
• Shimadzu
• Termo pescatore scientifico
• Xenocs
• Sistemi di XStream

Riferimenti

1. ^ Azároff, L. V.; R. Kaplow, N. Kato, R. J. Weiss, A. J. C. Wilson, R. A. Young (1974). Diffrazione di raggi X. McGraw-Collina. 
2. ^ Glatter, O.; O. Kratky (1982). Piccola dispersione dei raggi X di angolo. Pressione accademica. 

Veda inoltre

• Determinazione della struttura
• Cristallografia dei raggi X

Collegamenti esterni

• Unione internazionale di cristallografia
  • Cristallografia di IUCr in linea
• Il centro internazionale per i dati di diffrazione (ICDD)
• Archivi di XRD@JISCMAIL.AC.UK
• L'associazione cristallografica britannica
• Introduzione a diffrazione di raggi X a Università di California, Santa Barbara