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Rayon X dispersant des techniques

Rayon X dispersant des techniques sont une famille d'analytique non destructif techniques ce qui indiquent des informations sur cristallographique structure, composition chimique, et propriétés physiques des matériaux et des couches minces. Ces techniques sont basées sur observer dispersé intensité de l' rayon X rayonnez frapper un échantillon en fonction de l'incident et l'angle, la polarisation, et la longueur d'onde ou l'énergie dispersée.

Table des matières

Techniques de diffraction de rayon X

La diffraction de rayon X trouve la géométrie ou la forme d'une molécule en utilisant des rayons X. Rayon X diffraction des techniques sont basées sur élastique dispersion des rayons X des structures qui ont ordre de longue gamme. La description la plus complète de la dispersion des cristaux est donnée par théorie dynamique de diffraction. [1]

  • diffraction de rayon X de Simple-cristal est une technique employée pour résoudre la structure complète des matériaux cristallins, s'étendant de simple solides inorganiques au complexe macromolécules, comme protéines.
  • Diffraction de poudre (XRD) est une technique employée pour caractériser la structure cristallographique, cristallite taille (taille de grain), et orientation préférée dans les échantillons pleins polycristallins ou en poudre. La diffraction de poudre est utilisée généralement pour identifier les substances inconnues, en comparant des données de diffraction contre une base de données maintenue par Centre international pour des données de diffraction. Il peut également être employé pour caractériser les mélanges pleins hétérogènes pour déterminer l'abondance relative de composés cristallins et, une fois couplé aux techniques d'amélioration de trellis, comme Amélioration de Rietveld, peut fournir des informations structurales sur les matériaux inconnus. La diffraction de poudre est également une méthode commune pour la détermination contraintes en matériaux cristallins.
  • La diffraction de la couche mince et le pâturage de la diffraction de rayon X d'incidence peuvent être employés pour caractériser la structure cristallographique et l'orientation préférée des couches minces substrat-ancrées.
  • La diffraction de rayon X à haute résolution est employée pour caractériser l'épaisseur, la structure cristallographique, et la contrainte en films épitaxiaux minces. Il utilise le systeme optique de parallèle-faisceau.
  • Rayon X chiffre de poteau l'analyse permet d'analyser et déterminer la distribution des orientations cristallines dans un échantillon en couche mince cristallin.
  • L'analyse basculante de courbe de rayon X est employée pour mesurer la taille et la mosaïque de grain étendues en matériaux cristallins.

Dispersion des techniques

Diffusion élastique

Des matériaux qui n'ont pas l'ordre de longue gamme peuvent également être étudiés par la dispersion des méthodes qui comptent dessus élastique dispersion des rayons X monochromatiques.

Dispersion non élastique

Quand l'énergie et l'angle du inelastically des rayons X dispersés sont surveillés dispersant des techniques peuvent être employés pour sonder structure électronique de bande des matériaux.

  • Dispersion de Compton
  • Dispersion non élastique résonnante de rayon X (RIXS)
  • Dispersion de Raman de rayon X

Fabricants de diffraction de rayon X et d'équipement de dispersion

Références

  1. ^ Azároff, L. V. ; R. Kaplow, N. Kato, R. J. Weiss, A. J. C. Wilson, R. A. Young (1974). Diffraction de rayon X. McGraw-Colline. 
  2. ^ Glatter, O. ; O. Kratky (1982). Dispersion sous petit angle de rayon X. Pression d'universitaire. 

Voyez également

Liens externes

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